Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/229594| Title: | Микроконтроллерная система измерения времени жизни носителей заряда в кремнии : реферат к дипломной работе / Андрей Алексеевич Бурак; БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники; науч. рук. Карпович И. А. |
| Authors: | Бурак, Андрей Алексеевич |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Приборостроение |
| Issue Date: | 2019 |
| Abstract: | Целью данной работы является разработка макета установки для измерения времени жизни носителей заряда в кремнии. |
| Abstract (in another language): | The purpose of the work is to develop a plant layout and write software for measuring the lifetime of a non-equilibrium charge carriers in silicon. |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/229594 |
| Appears in Collections: | Физика (физика наноматериалов и нанотехнологий). 2019 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.