Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/229594| Заглавие документа: | Микроконтроллерная система измерения времени жизни носителей заряда в кремнии : реферат к дипломной работе / Андрей Алексеевич Бурак; БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники; науч. рук. Карпович И. А. |
| Авторы: | Бурак, Андрей Алексеевич |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Приборостроение |
| Дата публикации: | 2019 |
| Аннотация: | Целью данной работы является разработка макета установки для измерения времени жизни носителей заряда в кремнии. |
| Аннотация (на другом языке): | The purpose of the work is to develop a plant layout and write software for measuring the lifetime of a non-equilibrium charge carriers in silicon. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/229594 |
| Располагается в коллекциях: | Физика (физика наноматериалов и нанотехнологий). 2019 |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.