Новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда в базе диода с радиационными дефектами

Поклонский, Н. А.; Сягло, А. И.; Гардей, А. П.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В.; Власов, А. Т.

Issue Date Author Title Subject

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/223703

Title:	Новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда в базе диода с радиационными дефектами
Authors:	Поклонский, Н. А. Сягло, А. И. Гардей, А. П. Горбачук, Н. И. Шпаковский, С. В. Власов, А. Т.
Keywords:	ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date:	2007
Publisher:	Минск : Изд. центр БГУ
Citation:	Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of radiation witli solids : материалы 7-й Междунар. конф., Минск, 26-28 сент. 2007 г. / редкол. В. М. Анищик (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2007. — С. 222-224.
Abstract:	Предложен новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда по отклику тока в цепи "р+т-переход + резистор" на входной сигнал. Метод апробирован при определении времени жизни дырок в базе n-типа кремниевых диодов, облученных различными флюенсами электронов с энергией 3.5 МэВ
URI:	http://elib.bsu.by/handle/123456789/223703
ISBN:	978-985-476-530-3
Appears in Collections:	2007. Взаимодействие излучений с твердым телом

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
222-224.pdf		648,46 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar