Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/223703Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Поклонский, Н. А. | - |
| dc.contributor.author | Сягло, А. И. | - |
| dc.contributor.author | Гардей, А. П. | - |
| dc.contributor.author | Горбачук, Н. И. | - |
| dc.contributor.author | Шпаковский, С. В. | - |
| dc.contributor.author | Власов, А. Т. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-12T07:29:26Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-12T07:29:26Z | - |
| dc.date.issued | 2007 | - |
| dc.identifier.citation | Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of radiation witli solids : материалы 7-й Междунар. конф., Минск, 26-28 сент. 2007 г. / редкол. В. М. Анищик (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2007. — С. 222-224. | ru |
| dc.identifier.isbn | 978-985-476-530-3 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/223703 | - |
| dc.description.abstract | Предложен новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда по отклику тока в цепи "р+т-переход + резистор" на входной сигнал. Метод апробирован при определении времени жизни дырок в базе n-типа кремниевых диодов, облученных различными флюенсами электронов с энергией 3.5 МэВ | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Минск : Изд. центр БГУ | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда в базе диода с радиационными дефектами | ru |
| dc.type | conference paper | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2007. Взаимодействие излучений с твердым телом | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 222-224.pdf | 648,46 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.