Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/223703
Заглавие документа: | Новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда в базе диода с радиационными дефектами |
Авторы: | Поклонский, Н. А. Сягло, А. И. Гардей, А. П. Горбачук, Н. И. Шпаковский, С. В. Власов, А. Т. |
Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Дата публикации: | 2007 |
Издатель: | Минск : Изд. центр БГУ |
Библиографическое описание источника: | Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of radiation witli solids : материалы 7-й Междунар. конф., Минск, 26-28 сент. 2007 г. / редкол. В. М. Анищик (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2007. — С. 222-224. |
Аннотация: | Предложен новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда по отклику тока в цепи "р+т-переход + резистор" на входной сигнал. Метод апробирован при определении времени жизни дырок в базе n-типа кремниевых диодов, облученных различными флюенсами электронов с энергией 3.5 МэВ |
URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/223703 |
ISBN: | 978-985-476-530-3 |
Располагается в коллекциях: | 2007. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
222-224.pdf | 648,46 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.