Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/223703
Заглавие документа: Новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда в базе диода с радиационными дефектами
Авторы: Поклонский, Н. А.
Сягло, А. И.
Гардей, А. П.
Горбачук, Н. И.
Шпаковский, С. В.
Власов, А. Т.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2007
Издатель: Минск : Изд. центр БГУ
Библиографическое описание источника: Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of radiation witli solids : материалы 7-й Междунар. конф., Минск, 26-28 сент. 2007 г. / редкол. В. М. Анищик (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2007. — С. 222-224.
Аннотация: Предложен новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда по отклику тока в цепи "р+т-переход + резистор" на входной сигнал. Метод апробирован при определении времени жизни дырок в базе n-типа кремниевых диодов, облученных различными флюенсами электронов с энергией 3.5 МэВ
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/223703
ISBN: 978-985-476-530-3
Располагается в коллекциях:2007. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
222-224.pdf648,46 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.