Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/223703
Title: Новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда в базе диода с радиационными дефектами
Authors: Поклонский, Н. А.
Сягло, А. И.
Гардей, А. П.
Горбачук, Н. И.
Шпаковский, С. В.
Власов, А. Т.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2007
Publisher: Минск : Изд. центр БГУ
Citation: Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of radiation witli solids : материалы 7-й Междунар. конф., Минск, 26-28 сент. 2007 г. / редкол. В. М. Анищик (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2007. — С. 222-224.
Abstract: Предложен новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда по отклику тока в цепи "р+т-переход + резистор" на входной сигнал. Метод апробирован при определении времени жизни дырок в базе n-типа кремниевых диодов, облученных различными флюенсами электронов с энергией 3.5 МэВ
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/223703
ISBN: 978-985-476-530-3
Appears in Collections:2007. Взаимодействие излучений с твердым телом

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
222-224.pdf648,46 kBAdobe PDFView/Open


PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.