Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/205820
Заглавие документа: Дефекты структуры в кремнии, имплантированном водородом
Другое заглавие: The structural defects in silicon implanted by hydrogen / A.V.Mudryi, A.LPatuk, I.A.Shakin, T.P.Larionova, V.V.Emtsev, V.Yu.Davydov, G.Oganesyan, A.G.UIyashin, R.Job, W.R.Fahrne
Авторы: Мудрый, А. В.
Патук, А. И.
Шакин, И. А.
Ларионова, Т. П.
Емцев, В. В.
Давыдов, В. Ю.
Оганесян, Г.
Ульяшин, А. Г.
Джоб, Р.
Фарнер, В. Р.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2001
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Взаимодействие излучений с твердым телом: материалы IV Междунар. науч. конф., 3-5 окт. 2001 г., Минск. — Мн.: БГУ, 2001. — С. 189-191.
Аннотация: С использованием низкотемпературной (4.2 К) фотолюминесценции проведена идентификация дефектов в кремнии, имплантированном водородом. Установлено, что внедренные атомы водорода входят в состав основных оптически активных центров. В интервале температур 25-1100 °С определена термическая стабильность дефектов.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/205820
ISBN: 985-445-236-0
Располагается в коллекциях:2001. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
189-191.pdf721,05 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.