Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/204488
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Тульев, В. В. | - |
dc.contributor.author | Ташлыков, И. С. | - |
dc.date.accessioned | 2018-08-28T11:23:19Z | - |
dc.date.available | 2018-08-28T11:23:19Z | - |
dc.date.issued | 1999 | - |
dc.identifier.citation | Взаимодействие излучений с твердым телом: Материалы III междунар. науч. конф., 6-8 окт. 1999 г., Минск: В 2 ч. Ч.1. — Мн.: БГУ, 1999. — С. 160-162. | ru |
dc.identifier.isbn | 985-445-236-0 | - |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/204488 | - |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Минск : БГУ | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Процессы атомного перемешивания и распыления при облучении структур Al-Cu ионами Ar , Kr , Xe | ru |
dc.title.alternative | Ion beam mixing and sputtering of Al-Cu structure by accelerated Ar+, Kr+, Xe+ ions / V. V. Tuljev, I. S. Tashlykov | ru |
dc.type | conference paper | ru |
dc.description.alternative | The influence of the accelerated Ar, Kr and Xe ions on the efficiency of ion beam mixing processes across Al-Cu interface and sputtering of the top copper layer was studied. The mixing profiles and layer concentrations of elements were obtained by using the RBS technique and computer simulation programmes. | ru |
Располагается в коллекциях: | 1999. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
160-162.pdf | 257,84 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.