Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/204309
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Лугаков, П. Ф. | - |
dc.contributor.author | Казакевич, Л. А. | - |
dc.date.accessioned | 2018-08-27T11:20:03Z | - |
dc.date.available | 2018-08-27T11:20:03Z | - |
dc.date.issued | 2001 | - |
dc.identifier.citation | Взаимодействие излучений с твердым телом: материалы IV Междунар. науч. конф., 3-5 окт. 2001 г., Минск. — Мн.: БГУ, 2001. — С. 176-177 | ru |
dc.identifier.isbn | 985-445-236-0 | - |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/204309 | - |
dc.description.abstract | Описаны процессы рекомбинации неравновесных носителей заряда на радиационных дефеістах в кремнии, содержащем ростовые микродефекты. Показано, что наличие областей пространственного заряда и потенциальных барьеров в объеме кристаллов приводит к особенностям в радиационном изменении времени жизни носителей заряда и в их инжекционных зависимостях. | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Минск : БГУ | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Рекомбинация носителей заряда в облученном кремнии, содержащем ростовые микродефекты | ru |
dc.title.alternative | Recombination of charge carriers in irradifted silicon containing as-grown microdefects / P.P.Lugakov, L.A.Kazakevich | ru |
dc.type | conference paper | ru |
dc.description.alternative | The nonequilibrium carrier recombination processes are studied in n-Si containing microdefects of various types after irradiation with ®°Co Y-rays. The regularities established of the charge-carrier lifetime variation and its dependence on radiation treatments of the crystals studied are explained. | ru |
Располагается в коллекциях: | 2001. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
176-177.pdf | 520,52 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.