Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/164186| Title: | Особенности вида профилей распределения примеси, формируемых миграцией неравновесных примесных атомов |
| Authors: | Величко, О. И. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 2016 |
| Publisher: | Минск : Изд. центр БГУ |
| Citation: | Материалы и структуры современной электроники : сб. науч. тр. VII Междунар. науч. конф., посвящ. 50-летию каф. физики полупроводников и наноэлектроники, Минск, 12–13 окт. 2016 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2016. — С. 156–157. |
| Abstract: | Показано, что с увеличением среднего времени жизни межузельных атомов «хвост» на профиле распределения ионно-имплантированной примеси после термообработки меняет форму от прямой линии к выпуклой кривой. |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/164186 |
| ISBN: | 978-985-553-403-8 |
| Sponsorship: | Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследований. |
| Appears in Collections: | 2016. Материалы и структуры современной электроники |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| С.156-157_Величко.pdf | 391,77 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.