Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/163691
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorЗавацкий, С. А.-
dc.contributor.authorБондаренко, В. П.-
dc.date.accessioned2016-12-22T14:46:12Z-
dc.date.available2016-12-22T14:46:12Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники : сб. науч. тр. VII Междунар. науч. конф., посвящ. 50-летию каф. физики полупроводников и наноэлектроники, Минск, 12–13 окт. 2016 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2016. — С. 56–58.ru
dc.identifier.isbn978-985-553-403-8-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/163691-
dc.description.abstractЦель работы заключалась в выяснении и демонстрации различий структуры пористого кремния (ПК) по толщине в зависимости от режимов его изготовления. В ходе работы проведена статистическая обработка растровых изображений в глубине и на поверхности ПК. Показано, что структура ПК в глубине слоя отлична от структуры на поверхности.ru
dc.description.sponsorshipБелорусский республиканский фонд фундаментальных исследований.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск : Изд. центр БГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleСтруктура мезопористого кремния и ее геометрическая характеризацияru
dc.typeconference paperru
Располагается в коллекциях:2016. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
С.56-58_Завацкий.pdf416,86 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.