Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/163288| Title: | Исследование методом электротепловой спектрометрии деградации структуры теплового сопротивления транзисторов КП7209 в корпусе ТО-254 при воздействии высокоинтенсивных термоударов |
| Authors: | Бумай, Ю. А. Васьков, О. С. Кононенко, В. К. Нисс, В. С. Керенцев, А. Ф. Петлицкий, А. Н. Рубцевич, И. И. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 2016 |
| Publisher: | Минск : Изд. центр БГУ |
| Citation: | Материалы и структуры современной электроники : сб. науч. тр. VII Междунар. науч. конф., посвящ. 50-летию каф. физики полупроводников и наноэлектроники, Минск, 12–13 окт. 2016 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2016. — С.30–33. |
| Abstract: | Методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии (ТРДС) исследована деградация внутреннего теплового сопротивления МОП-транзисторов КП7209 в корпусе ТО-254, изготовленных при различных температурных режимах и методах посадки кристалла, при воздействии термоударов в интервале от –196 до +200 °С. Обнаружено, что основные изменения теплового сопротивления образцов проявились в области посадки кристаллов. Полученные результаты и закономерности могут быть использованы для анализа механизмов деградации мощных полупроводниковых приборов и повышения их надежности. |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/163288 |
| ISBN: | 978-985-553-403-8 |
| Sponsorship: | Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследований. |
| Appears in Collections: | 2016. Материалы и структуры современной электроники |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| с.30-33_Бумай.pdf | 1,13 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.