Моделирование шумовых характеристик субмикронного кремниевого диода со структурой n+-n-n+ многочастичным методом Монте-Карло

Борздов, А. В.; Борздов, В. М.; Кучинский, П. В.

Issue Date Author Title Subject

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/163287

Title:	Моделирование шумовых характеристик субмикронного кремниевого диода со структурой n+-n-n+ многочастичным методом Монте-Карло
Authors:	Борздов, А. В. Борздов, В. М. Кучинский, П. В.
Keywords:	ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date:	2016
Publisher:	Минск : Изд. центр БГУ
Citation:	Материалы и структуры современной электроники : сб. науч. тр. VII Междунар. науч. конф., посвящ. 50-летию каф. физики полупроводников и наноэлектроники, Минск, 12–13 окт. 2016 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2016. — С. 28-30.
Abstract:	Многочастичным методом Монте-Карло проведено моделирование флуктуаций плотности тока в субмикронном кремниевом диоде со структурой n+-n-n+. Рассчитаны автокорреляционные функции флуктуаций плотности тока в диоде во времени для различных значений постоянного напряжения, приложенного к его электродам, с учетом и без учета процесса ударной ионизации.
URI:	http://elib.bsu.by/handle/123456789/163287
ISBN:	978-985-553-403-8
Sponsorship:	Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследований.
Appears in Collections:	2016. Материалы и структуры современной электроники

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
с.28-30_Борздов.pdf		380,46 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar