Logo BSU

Поиск


Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 8551-8560 из 8846.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
ноя-2015Influence of wide band gap oxide substrates on the photoelectrochemical properties and structural disorder of CdS nanoparticles grown by the successive ionic layer adsorption and reaction (SILAR) methodMalashchonak, M. V.; Mazanik, A. V.; Korolik, O. V.; Streltsov, E. A.; Kulak, A. I.
4-июн-2013Современные интерпретируемые языки № УД-503/баз.Жерело, А. В.; Крылов, Г. Г.
2023Накопление трития и других нежелательных β-излучающих радионуклидов при производстве радиофармпрепаратов для ПЭТ диагностикиБринкевич, С. Д.; Бринкевич, Д. И.; Киевицкая, А. И.; Кийко, А. Н.
июл-2023X-ray Diffraction and Raman Spectroscopy Analyses of GaSb-enriched Si Surface Formed by Applying Diffusion Doping TechniqueIliyev, Xalmurat M.; Odzhaev, Vladimir B.; Isamov, Sobir B.; Isakov, Bobir O.; Ismaylov, Bayrambay K.; Ayupov, Kutub S.; Hamrokulov, Shahzodbek I.; Khasanbaeva, Sarvinoz O.
2023Spectroscopic characterization of yellow gem quality CVD diamondJohnson, P.; Moe, K. S.; Persaud, S.; Odake, S.; Kazuchits, N. M.; Zaitsev, A. M.
мая-2023Физико-механические свойства пленок диазохинонноволачных фоторезистов на монокристаллическом кремнии, облученных электронамиБринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Вабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.; Ластовский, С. Б.; Точилин, Е. В.
30-июн-2020Физические основы электроники: учебная программа УВО по учебной дисциплине для специальности 1-31 03 01 Математика (по направлениям) направление специальности 1-31 03 01-04 Математика (научно-конструкторская деятельность). № УД-9701/уч.Петров, Владимир Васильевич
2016Влияние обработки поверхности кремния в растворе (NH4)2Sx на зарядовые свойства границы раздела оксид диспрозия-кремнийБабушкина, Н. В.; Малышев, С. А.; Жигулин, Д. В.; Романова, Л. И.
2001Управление расходом газов в процессах ионно-лучевого осаждения покрытий на основе оксидовБурмаков, А. П.; Никифоренко, Н. Н.; Чёрный, В. Е.
2001Comparative investigation of surface roughness by X-ray reflection and probe microscopyGaponov, S. V.; Gribkov, B. A.; Mironov, V. L.; Salaschenko, N. N.; Fraerman, A. A.