Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/205815| Заглавие документа: | Comparative investigation of surface roughness by X-ray reflection and probe microscopy |
| Авторы: | Gaponov, S. V. Gribkov, B. A. Mironov, V. L. Salaschenko, N. N. Fraerman, A. A. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2001 |
| Издатель: | Минск : БГУ |
| Библиографическое описание источника: | Взаимодействие излучений с твердым телом: материалы IV Междунар. науч. конф., 3-5 окт. 2001 г., Минск. — Мн.: БГУ, 2001. — С. 335-337. |
| Аннотация: | We report the results of a comparative analysis on the surface roughness of glass substrates by the methods of X-ray reflectivity (XR) and atomic-force microscopy (AFM). Based on the AFM data, the parameters of the effective roughness that determines reflectivity of x-ray radiation have been calculated. It is shown that the effective rms roughness values and angular dependencies of the reflection coefficient in the x-ray range of wavelengths, calculated from the AFM profiles of substrates surface, are in good agreement with the XR measurement data. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/205815 |
| ISBN: | 985-445-236-0 |
| Располагается в коллекциях: | 2001. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 335-337.pdf | 647,95 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.