Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/14831
Title: Провести исследования и разработать программно-математический комплекс комплекс моделирования процессов электромиграции в металлизации субмикронных ИМС : отчет о НИР(заключительный) / БГУ; рук. Молофеев, В. М.
Authors: Молофеев, В. М.
Борздов, В. М.
Гопка, А. В.
Поздняков, Д. В.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2011
Publisher: Минск : БГУ
Abstract: В ходе выполнения научно-исследовательской работы предложена физико-статистическая модель процесса электромиграции в тонкопленочной алюминиевой металлизации субмикронных ИМС, на базе которой разработан программно-математический комплекс EM_Simulation, позволяющий в ходе вычислительного эксперимента провести анализ динамики процесса деградации элементов металлизации различной структуры вследствие электромиграции, оценить изменения электрофизических параметров тонкопленочных элементов при различных режимах работы, рассчитать их показатели надежности.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/14831
Registration number: № ГР 20100316
Appears in Collections:Отчеты 2011

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Отчет 20100316 Молофеев.doc823,5 kBMicrosoft WordView/Open
Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.