Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/14831
Title: | Провести исследования и разработать программно-математический комплекс комплекс моделирования процессов электромиграции в металлизации субмикронных ИМС : отчет о НИР(заключительный) / БГУ; рук. Молофеев, В. М. |
Authors: | Молофеев, В. М. Борздов, В. М. Гопка, А. В. Поздняков, Д. В. |
Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Issue Date: | 2011 |
Publisher: | Минск : БГУ |
Abstract: | В ходе выполнения научно-исследовательской работы предложена физико-статистическая модель процесса электромиграции в тонкопленочной алюминиевой металлизации субмикронных ИМС, на базе которой разработан программно-математический комплекс EM_Simulation, позволяющий в ходе вычислительного эксперимента провести анализ динамики процесса деградации элементов металлизации различной структуры вследствие электромиграции, оценить изменения электрофизических параметров тонкопленочных элементов при различных режимах работы, рассчитать их показатели надежности. |
URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/14831 |
Registration number: | № ГР 20100316 |
Appears in Collections: | Отчеты 2011 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Отчет 20100316 Молофеев.doc | 823,5 kB | Microsoft Word | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.