Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/14831Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Молофеев, В. М. | - |
| dc.contributor.author | Борздов, В. М. | - |
| dc.contributor.author | Гопка, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Поздняков, Д. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2012-09-03T08:24:40Z | - |
| dc.date.available | 2012-09-03T08:24:40Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.other | № ГР 20100316 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/14831 | - |
| dc.description.abstract | В ходе выполнения научно-исследовательской работы предложена физико-статистическая модель процесса электромиграции в тонкопленочной алюминиевой металлизации субмикронных ИМС, на базе которой разработан программно-математический комплекс EM_Simulation, позволяющий в ходе вычислительного эксперимента провести анализ динамики процесса деградации элементов металлизации различной структуры вследствие электромиграции, оценить изменения электрофизических параметров тонкопленочных элементов при различных режимах работы, рассчитать их показатели надежности. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Минск : БГУ | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Провести исследования и разработать программно-математический комплекс комплекс моделирования процессов электромиграции в металлизации субмикронных ИМС : отчет о НИР(заключительный) / БГУ; рук. Молофеев, В. М. | ru |
| dc.type | report | ru |
| Располагается в коллекциях: | Отчеты 2011 | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Отчет 20100316 Молофеев.doc | 823,5 kB | Microsoft Word | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.