Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/14831| Заглавие документа: | Провести исследования и разработать программно-математический комплекс комплекс моделирования процессов электромиграции в металлизации субмикронных ИМС : отчет о НИР(заключительный) / БГУ; рук. Молофеев, В. М. |
| Авторы: | Молофеев, В. М. Борздов, В. М. Гопка, А. В. Поздняков, Д. В. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2011 |
| Издатель: | Минск : БГУ |
| Аннотация: | В ходе выполнения научно-исследовательской работы предложена физико-статистическая модель процесса электромиграции в тонкопленочной алюминиевой металлизации субмикронных ИМС, на базе которой разработан программно-математический комплекс EM_Simulation, позволяющий в ходе вычислительного эксперимента провести анализ динамики процесса деградации элементов металлизации различной структуры вследствие электромиграции, оценить изменения электрофизических параметров тонкопленочных элементов при различных режимах работы, рассчитать их показатели надежности. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/14831 |
| Регистрационный номер: | № ГР 20100316 |
| Располагается в коллекциях: | Отчеты 2011 |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Отчет 20100316 Молофеев.doc | 823,5 kB | Microsoft Word | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.