Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/120065| Заглавие документа: | МЕХАНИЗМ РЕЛАКСАЦИИ УПРУГИХ НАПРЯЖЕНИЙ В ТВЕРДЫХ РАСТВОРАХ SiGe |
| Авторы: | Смирнова, О. Ю. Стельмах, В. Ф. Покотило, Ю. М. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2015 |
| Аннотация: | Методом спектроскопии комбинационного рассеяния света исследовалась зависимость параметра решетки твердых растворов GexSi1-x (х = 0 – 0.123) от их состава. Показано, что релаксация упругих напряжений в растворе, обусловленная заменой атомов кремния атомами германия, происходит путем изменения длин связей и угла между ними. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/120065 |
| Располагается в коллекциях: | 2015. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Смирнова.pdf | 417,18 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.