Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/120065
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСмирнова, О. Ю.-
dc.contributor.authorСтельмах, В. Ф.-
dc.contributor.authorПокотило, Ю. М.-
dc.date.accessioned2015-10-06T14:39:59Z-
dc.date.available2015-10-06T14:39:59Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/120065-
dc.description.abstractМетодом спектроскопии комбинационного рассеяния света исследовалась зависимость параметра решетки твердых растворов GexSi1-x (х = 0 – 0.123) от их состава. Показано, что релаксация упругих напряжений в растворе, обусловленная заменой атомов кремния атомами германия, происходит путем изменения длин связей и угла между ними.ru
dc.language.isoruru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleМЕХАНИЗМ РЕЛАКСАЦИИ УПРУГИХ НАПРЯЖЕНИЙ В ТВЕРДЫХ РАСТВОРАХ SiGeru
dc.typeArticleru
Appears in Collections:2015. Взаимодействие излучений с твердым телом

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Смирнова.pdf417,18 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar



PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.