Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/113499Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Benediktovitch, A. I. | - |
| dc.contributor.author | Zhylik, Alexei | - |
| dc.contributor.author | Ulyanenkova, Tatjana | - |
| dc.contributor.author | Myronov, Maksym | - |
| dc.contributor.author | Ulyanenkov, A. | - |
| dc.date.accessioned | 2015-04-29T11:53:43Z | - |
| dc.date.available | 2015-04-29T11:53:43Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | J. Appl. Cryst. (2015). 48 | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/113499 | - |
| dc.language.iso | en | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction | ru |
| dc.type | article | ru |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра теоретической физики и астрофизики (статьи) | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2015'Benediktovitch_JAC.pdf | 1 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.

