Logo BSU

Статистика

Всего просмотров

Просмотров
Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction 291

Всего просмотров за месяц

января 2025 февраля 2025 марта 2025 апреля 2025 мая 2025 июня 2025 июля 2025
Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction 9 1 0 4 0 2 1

Загрузок файла

Просмотров
2015'Benediktovitch_JAC.pdf 471

ТОП-просмотров по странам

Просмотров
Соединенные Штаты 154
Россия 29
Германия 20
Украина 17
Беларусь 12
Канада 12
Австрия 7
Япония 5
Китай 4
EU 3

ТОП-просмотров по городам

Просмотров
Ashburn 45
Fairfield 28
Ann Arbor 23
Houston 16
Saint Petersburg 15
Munich 13
Ottawa 11
Cambridge 10
Menlo Park 8
Vienna 7