Logo BSU

Статистика

Всего просмотров

Просмотров
Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction 338

Всего просмотров за месяц

апреля 2025 мая 2025 июня 2025 июля 2025 августа 2025 сентября 2025 октября 2025
Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction 4 0 2 1 3 39 5

Загрузок файла

Просмотров
2015'Benediktovitch_JAC.pdf 476

ТОП-просмотров по странам

Просмотров
Соединенные Штаты 199
Россия 29
Германия 21
Украина 17
Беларусь 12
Канада 12
Австрия 7
Япония 5
Китай 4
EU 3

ТОП-просмотров по городам

Просмотров
Houston 55
Ashburn 45
Fairfield 28
Ann Arbor 23
Saint Petersburg 15
Munich 13
Ottawa 11
Cambridge 10
Menlo Park 8
Vienna 7