Logo BSU

Статистика

Всего просмотров

Просмотров
Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction 410

Всего просмотров за месяц

октября 2025 ноября 2025 декабря 2025 января 2026 февраля 2026 марта 2026 апреля 2026
Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction 11 23 5 7 8 3 20

Загрузок файла

Просмотров
2015'Benediktovitch_JAC.pdf 498

ТОП-просмотров по странам

Просмотров
Соединенные Штаты 206
Россия 34
Япония 26
Канада 24
Германия 22
Украина 17
Беларусь 12
Вьетнам 10
Австрия 7
Китай 5

ТОП-просмотров по городам

Просмотров
Houston 55
Ashburn 45
Fairfield 29
Tokyo 24
Ann Arbor 23
Ottawa 23
Saint Petersburg 15
Munich 13
Cambridge 10
Hanoi 10