Logo BSU

Статистика

Всего просмотров

Просмотров
Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction 367

Всего просмотров за месяц

июня 2025 июля 2025 августа 2025 сентября 2025 октября 2025 ноября 2025 декабря 2025
Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction 2 1 3 39 11 23 0

Загрузок файла

Просмотров
2015'Benediktovitch_JAC.pdf 482

ТОП-просмотров по странам

Просмотров
Соединенные Штаты 201
Россия 32
Япония 22
Германия 21
Украина 17
Канада 15
Беларусь 12
Австрия 7
Китай 4
EU 3

ТОП-просмотров по городам

Просмотров
Houston 55
Ashburn 45
Fairfield 28
Ann Arbor 23
Tokyo 21
Saint Petersburg 15
Ottawa 14
Munich 13
Cambridge 10
Menlo Park 8