Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/107202
Заглавие документа: | Моделирование методом Монте-Карло влияния ударной ионизации на ВАХ и флуктуации тока в кремниевом диоде со структурой n+-n-n+ |
Авторы: | Борздов, А. В. Борздов, В. М. Буслюк, В. В. |
Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Дата публикации: | 2014 |
Издатель: | Издательский центр БГУ |
Библиографическое описание источника: | Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. VI Междунар. науч. конф., Минск, 8-9 окт. 2014 г. / редкол.: В.Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. - Минск: Изд. центр БГУ, 2014. - С. |
Аннотация: | Целью данной работы явилась разработка численной модели переноса носителей заряда в кремниевой глубокосубмикронной диодной структуре n+-n-n+ на основе метода Монте-Карло в условиях значительного разогрева электронного газа в проводящем канале для расчета ее вольтамперных характеристик (ВАХ), и исследования влияния процесса межзонной ударной ионизации на электрический шум в этой структуре. Анализ рассчитанных зависимостей показал, в частности, что имеет место значительный рост величины дисперсии плотности тока в случае учета процесса ударной ионизации по отношению к величине дисперсии, рассчитанной без учета этого процесса. |
URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/107202 |
ISBN: | 978-985-553-234-8 |
Финансовая поддержка: | Белорусский Республиканский Фонд Фундаментальных Исследований |
Располагается в коллекциях: | 2014. Материалы и структуры современной электроники |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
p.40-43.pdf | 464,78 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.