Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/10024| Заглавие документа: | Моделирование методом Монте-Карло приборных структур СБИС и УБИС |
| Авторы: | Борздов, В. М. Борздов, А. В. Поздняков, Д. В. Жевняк, О. Г. Сперанский, Д. С. Комаров, Ф. Ф. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ОБЩЕСТВЕННЫЕ НАУКИ::Информатика |
| Дата публикации: | 2011 |
| Издатель: | БГУ |
| Библиографическое описание источника: | Международный конгресс по информатике: информационные системы и технологии: материалы международного научного конгресса 31 окт. – 3 нояб. 2011 г. : в 2 ч. Ч. 1. – Минск: БГУ, 2011. – C . 431-435. |
| Аннотация: | В докладе изложена методология численного моделирования полупроводниковых приборных структур СБИС и УБИС на основе метода Монте-Карло, а также представлены отдельные результаты расчета электрофизических параметров и электрических характеристик этим методом глубоко субмикронных интегральных МОП-транзисторов с длиной канала 100 нм с использованием разработанного авторами программного комплекса. |
| Доп. сведения: | Секция 5. Компьютерные технологии в приборостроении |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/10024 |
| ISBN: | 978-985-518-563-6 |
| Располагается в коллекциях: | 2011. Международный конгресс по информатике : информационные системы и технологии. Часть 1. |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| pages from Конференция_1. 431-435pdf.pdf | 408,1 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.