Электронная библиотека БГУ: Просмотр

Даты публикации Авторы Заглавия Темы

Просмотр Авторы Жарин, А. Л.

Перейти: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых символов:

Результаты 1 - 6 из 6

Предварительный просмотр	Дата выпуска	Заглавие	Автор(ы)
	2020	Бесконтактное картирование примеси железа в кремнии зондовым зарядочувствительным методом	Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Тявловский, К. Л.; Пантелеев, К. В.; Воробей, Р. И.; Свистун, А. И.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н.
	2016	Бесконтактное определение пространственного распределения времени жизни неравновесных носителей заряда в кремнии на основе анализа спектральной зависимости поверхностной фотоЭДС	Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В.
	2025	Градиентные электропотенциальные изображения в неразрушающем контроле поверхности полупроводниковых структур	Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.
	2020	Зондовые зарядочувствительные методы в технологическом контроле производства больших интегральных схем	Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н.
	2017	Контроль качества подложек из сплава алюминия неразрушающим методом контактной разности потенциалов	Шаронов, Г. В.; Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Гасенкова, И. В.; Мухуров, Н. И.
	2022	Контроль качества полупроводниковых материалов и приборных структур с использованием измерительной установки СКАН-2019	Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н.

Результаты 1 - 6 из 6