Skip navigation
Главная страница
Вход
Язык
English
русский
ISSN 2519-4437
(online)
Электронная библиотека БГУ
Даты публикации
Авторы
Заглавия
Темы
Просмотр Темы ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Перейти:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
Й
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ъ
Ы
Ь
Э
Ю
Я
или введите несколько первых символов:
сортировать:
Заглавие
Дата выпуска
Дата поступления
В порядке:
По возрастанию
По убыванию
Результаты/Страница
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Авторы/Запись:
Все
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Результаты 6318 - 6327 из 14425
< предыдущий
следующий >
Предварительный просмотр
Дата выпуска
Заглавие
Автор(ы)
янв-2005
Зависимости спектрально-угловых характеристик рассеянного излучения вблизи области нулевой дисперсии от параметров накачки
Свистун, Андрей Чеславович
;
Гайда, Леонид Станиславович
;
Мартинович, Андрей Иванович
2010
Зависимость выходных энергетических xарактеристик «ZIG-ZAG» лазеров от формы и размера активного элемента
Манак, И. С.
;
Леоненя, М. С.
;
Жуковский, В. В.
2016
Зависимость давления насыщенного пара жидкости от ее температуры : метод. указания к лабораторной работе по общей физике / И. К. Данейко, Т. А. Железнякова, А. В. Латышев; БГУ, Ф-т радиофизики и компьютерных технологий, Каф. физики и аэрокосмических технологий
Данейко, Игорь Константинович
;
Железнякова, Татьяна Александровна
;
Латышев, Александр Васильевич
23-янв-2010
Зависимость дифракционной эффективности голограмм от угла Брэгга и ориентации пьезокристалла
Горбач, Е. А.
;
Ничипорко, С. Ф.
;
Шепелевич, В. В.
2023
Зависимость ИК поглощения структур Si3N4/Ti/Au/Si3N4 от геометрии профилированных Ti/Au слоёв
Козодоев, С. В.
;
Мухаммад, А. И.
;
Гайдук, П. И.
2022
Зависимость ИК-поглощения структуры Si/SiO2/Si от уровня легирования Si-слоев
Мухаммад, А. И.
;
Гайдук, П. И.
мая-2011
Зависимость интенсивности спектральных линий углерода от структуры железных сплавов при двухимпульсной лазерной абляции
Воропай, Е. С.
;
Ермалицкая, К. Ф.
2018
Зависимость коэффициента усиления биполярного n–p–n-транзистора от параметров легированных областей и содержания технологических примесей
Оджаев, В. Б.
;
Панфиленко, А. К.
;
Петлицкий, А. Н.
;
Пилипенко, В. А.
;
Просолович, В. С.
;
Филипеня, В. А.
;
Явид, В. Ю.
;
Янковский, Ю. Н.
2019
Зависимость коэффициента усиления биполярного транзистора от параметров ионно-имплантированных областей эмиттера и базы
Оджаев, В. Б.
;
Панфиленко, А. К.
;
Петлицкий, А. Н.
;
Пилипенко, В. А.
;
Просолович, В. С.
;
Филипеня, В. А.
;
Явид, В. Ю.
;
Янковский, Ю. Н.
2019
Зависимость коэффициента усиления биполярного транзистора от параметров ионно-имплантированных областей эмиттера и базы
Оджаев, В. Б.
;
Панфиленко, А. К.
;
Петлицкий, А. Н.
;
Пилипенко, В. А.
;
Просолович, В. С.
;
Филипеня, В. А.
;
Явид, В. Ю.
;
Янковский, Ю. Н.