Logo BSU

Просмотр "Факультет радиофизики и компьютерных технологий" Авторы Жевняк, О. Г.

Перейти: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых символов:  
Результаты 1 - 20 из 25  следующий >
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2003Апроксимация начального участка BAX высоколегированного tv-канального МОП-транзистораАндреев, А. Д.; Валиев, А. А.; Мулярчик, С. Г.; Жевняк, О. Г.; Шевкун, И. М.
2003Апроксимация начального участка ВАХ высоколегированного МОП-транзистораАндреев, А. Д.; Валиев, А. А.; Жевняк, О. Г.; Мулярчик, С. Г.; Шевкун, И. М.
2003Влияние сегрегации примесей на сквозное обеднение в tv-канальном МОП-транзистореАндреев, А. Д.; Валиев, А. А.; Жевняк, О. Г.; Мулярчик, С. Г.; Шевкун, И. М.
2003Влияние сегрегации примеси на сквозное объединение в n-канальном МОП транзистореАндреев, А. Д.; Валиев, А. А.; Жевняк, О. Г.; Мулярчик, С. Г.; Шевкун, И. М.
2018Вычислительная микро- и наноэлектроника. №УД - 5452/уч.Жевняк, О. Г.
2003Интенсивности рассеяния вторичных дырок в N-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторовБорздов, В. Н.; Галенчик, В. О.; Жевняк, О. Г.; Зезюля, А. В.; Комаров, Ф. Ф.; Малышев, В. С.
2003Интенсивности рассеяния вторичных дырок в w-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторовБорздов, В. М.; Галенчик, В. О.; Жевняк, О. Г.; Комаров, Ф. Ф.; Зезюля, А. В.
2021Моделирование влияния глубины залегания стока на перенос электронов в элементах флеш-памятиЖевняк, О. Г.; Жевняк, Я. О.
2023Моделирование влияния затворного напряжения на плотность паразитного туннельного тока в элементах флеш-памятиЖевняк, О. Г.; Борздов, А. В.; Борздов, В. М.
2011Моделирование методом Монте-Карло подвижности электронов вблизи стока в короткоканальных МОП-транзисторах с мелкими и глубокими стокамиЖевняк, О. Г.
2022Моделирование методом Монте-Карло пространственного распределения энергии электронов в элементах флеш-памятиЖевняк, О. Г.; Борздов, В. М.; Борздов, А. В.; Леонтьев, А. В.
2015Моделирование методом Монте-Карло туннельного тока в субмикронных МОП-транзисторах.Жевняк, О. Г.
2010Моделирование методом Монте-Карло электронного переноса в ультра короткоканальных МОП-транзисторахЖевняк, О. Г.
2006Моделирование переходных процессов в GaAs-квантовой проволоке с учетом уширения энергетических уровнейЖевняк, О. Г.; Поздняков, Д. В.; Борздов, А. В.; Борздов, В. М.; Галенчик, В. О.
22-ноя-2013Моделирование технологий и приборов электроники № УД-604/рЖевняк, О. Г.
2020Моделирование туннельного тока в элементах флеш-памяти на основе КНИ-МОП-транзисторовЖевняк, О. Г.; Жевняк, Я. О.
ноя-2019Моделирование электронного переноса в элементах флеш-памяти при режиме считывания информацииЖевняк, О. Г.; Жевняк, Я. О.
18-ноя-2013Основы наноэлектроники №УД-672/рЖевняк, О. Г.
5-дек-2012Основы радиоэлектроники : электронный учебно-методический комплекс / В. М. Борздов, О. Г. Жевняк; БГУ, Факультет радиофизики и компьютерных технологийБорздов, В. М.; Жевняк, О. Г.
2003Самосогласованный расчет электронных состояний в гетероструктурах AlGaAs/GaAsБорздов, А. В.; Галенчик, В. О.; Жевняк, О. Г.