Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/5630| Заглавие документа: | Рентгеновская диагностика подложек синтетического монокристаллического алмаза для эпитаксиальных технологий |
| Авторы: | Шаронов, Г. В. Васильев, И. А. Петров, С. А. Пушкарев, А. В. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | сен-2009 |
| Издатель: | БГУ |
| Библиографическое описание источника: | Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. - 2009. - N 3. - С. 21-24. |
| Аннотация: | Off-orientation of plain (001) and surface of diamond single crystal was analyzed. On basis of diamond single crystal films, which were raised on the synthetic diamond substrates, were worked out ultraviolet radiation detectors. = Методом дифракции рентгеновских лучей определена разориентация кристаллографической плоскости (001) с поверх-ностью монокристаллов синтетического алмаза, используемых в качестве подложек для технологии гомоэпитаксиального роста монокристаллических алмазных слоев электронного качества. Показана возможность создания УФ-детекторов на алмазных монокристаллических пленках, выращенных на подложках синтетического монокристаллического алмаза. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/5630 |
| ISSN: | 0321-0367 |
| Лицензия: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Располагается в коллекциях: | 2009, №3 (сентябрь) |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 05 ШАРОНОВ.pdf | 581,56 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.