Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/48587
Заглавие документа: | Определение состава твердых растворов GexSi1-x и энергии ионизации дефектов из данных спектроскопии комбинационного рассеяния света |
Авторы: | Смирнова, О. Ю. Стельмах, Г. Ф. Покотило, Ю. М. |
Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Дата публикации: | 2013 |
Аннотация: | Методами спектроскопии комбинационного рассеяния света и нестационарной емкостной спектроскопии глубоких уровней исследовалась корреляция оптических и электрофизических свойств твердых растворов GexSi1-x (х = 1 – 0.94). Показано, что смещение в область более малых значений частот фононов оптических колебаний Ge-Ge связей обу- словлено растягивающими напряжениями в решетке германия за счет внедрения более легких атомов кремния. Из величины смещения определено, что значение постоянной решетки в Ge 0,94 Si 0,06 на 0,17 % превышает таковое в чистом германии. Эта деформация решетки приводит к существенному увеличению энергии ионизации и сечения за- хвата радиационных дефектов. |
URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/48587 |
Располагается в коллекциях: | 2013. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Смирнова.pdf | 229,19 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.