Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/48587
Title: Определение состава твердых растворов GexSi1-x и энергии ионизации дефектов из данных спектроскопии комбинационного рассеяния света
Authors: Смирнова, О. Ю.
Стельмах, Г. Ф.
Покотило, Ю. М.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2013
Abstract: Методами спектроскопии комбинационного рассеяния света и нестационарной емкостной спектроскопии глубоких уровней исследовалась корреляция оптических и электрофизических свойств твердых растворов GexSi1-x (х = 1 – 0.94). Показано, что смещение в область более малых значений частот фононов оптических колебаний Ge-Ge связей обу- словлено растягивающими напряжениями в решетке германия за счет внедрения более легких атомов кремния. Из величины смещения определено, что значение постоянной решетки в Ge 0,94 Si 0,06 на 0,17 % превышает таковое в чистом германии. Эта деформация решетки приводит к существенному увеличению энергии ионизации и сечения за- хвата радиационных дефектов.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/48587
Appears in Collections:2013. Взаимодействие излучений с твердым телом

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Смирнова.pdf229,19 kBAdobe PDFView/Open


PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.