Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/48431
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorЖигулин, Д. В.-
dc.contributor.authorКиросирова, М. В.-
dc.contributor.authorПопкова, А. А.-
dc.date.accessioned2013-10-08T07:47:56Z-
dc.date.available2013-10-08T07:47:56Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/48431-
dc.description.abstractИсследованы поперечные сечения субмикронных ИМС, как с использованием химического декорирования (кислотного и щелочного), так и без него. Показано воздействие химических травителей на различные области вертикальной топологии ИМС.ru
dc.language.isoruru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleОсобенности исследований поперечных сечений субмикронных ИМС методом растровой электронной микроскопииru
dc.typeconference paperru
Располагается в коллекциях:2013. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Жигулин.pdf622,64 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.