Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/48358Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Konarski, Piotr | - |
| dc.contributor.author | Miśnik, Maciej | - |
| dc.date.accessioned | 2013-10-04T13:06:02Z | - |
| dc.date.available | 2013-10-04T13:06:02Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/48358 | - |
| dc.description.abstract | New applications of ion bombardment in secondary ion mass spectrometry (SIMS) are reviewed. Recent development and application of cluster ion bombardment in SIMS method are discussed. Also discussed is recently developed, one of quantitative SIMS techniques – “storing matter” technique. Presented is new design quadrupole based SIMS spectrometer allowing to perform “storing matter” technique in one analytical chamber. Examples of depth profile analysis of Cr implanted inconel 600 alloy obtained with the use of ‘standard’ and ‘storing matter’ SIMS are presented. | ru |
| dc.language.iso | en | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Ion bombardment techniques - recent developments in SIMS | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2013. Взаимодействие излучений с твердым телом | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Konarski .pdf | 251,87 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.