Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/38037
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorВаськов, О. В.-
dc.contributor.authorКононенко, В. К.-
dc.contributor.authorНисс, В. С.-
dc.contributor.authorТурцевич, А. С.-
dc.contributor.authorРубцевич, И. И.-
dc.contributor.authorСоловьев, Я. А.-
dc.contributor.authorКеренцев, А. Ф.-
dc.date.accessioned2013-03-20T11:10:22Z-
dc.date.available2013-03-20T11:10:22Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. V Междунар. науч. конф., Минск, 10-11 окт. 2012 г. С.27-30ru
dc.identifier.isbn978-985-553-079-5-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/38037-
dc.language.isoruru
dc.publisherИздательский центр БГУru
dc.relation.ispartofseriesВузовская наука, промышленность, международное сотрудничество;-
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleТЕПЛОВЫЕ ПАРАМЕТРЫ, СТРУКТУРА И ДЕФЕКТНОСТЬ ПОСАДКИ МОЩНЫХ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВru
dc.typeconference paperru
Располагается в коллекциях:2012. Материалы и структуры современной электроники

Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.