Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/38032
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorАдашкевич, Сергей Владимирович-
dc.contributor.authorЛапчук, Наталья Михайловна-
dc.contributor.authorЛапчук, Татьяна Михайловна-
dc.contributor.authorОлешкевич, Анна Николаевна-
dc.contributor.authorСтельмах, Вячеслав Фомич-
dc.contributor.authorФан Суан Тоан-
dc.contributor.authorШилагарди, Г.-
dc.date.accessioned2013-03-20T10:31:26Z-
dc.date.available2013-03-20T10:31:26Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. V Междунар. науч. конф., Минск, 10-11 окт. 2012 г. С.9-12ru
dc.identifier.isbn978-985-553-079-5-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/38032-
dc.language.isoruru
dc.publisherИздательский центр БГУru
dc.relation.ispartofseriesВузовская наука, промышленность, международное сотрудничество;-
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleО КОРРЕЛЯЦИИ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ И РАДИОСПЕКТРОСКОПИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КАМЕННЫХ УГЛЕЙru
dc.typeconference paperru
Располагается в коллекциях:2012. Материалы и структуры современной электроники

Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.