Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/344338
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКовальчук, Н.С.-
dc.contributor.authorДемидович, С.А.-
dc.contributor.authorВласукова, Л.А.-
dc.contributor.authorПархоменко, И.Н.-
dc.contributor.authorКомаров, Ф.Ф.-
dc.date.accessioned2026-03-23T13:39:24Z-
dc.date.available2026-03-23T13:39:24Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationНеорганические материалы. 2022;Т. 58(9): С. 938-944.ru
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/344338-
dc.description.abstractПленки SiN<sub><i>x</i></sub> с низкими механическими напряжениями синтезированы в реакторе индуктивно-связанной плазмы (ICP) из смеси SiH<sub>4</sub> + N<sub>2</sub> + Ar. Обогащенные азотом пленки SiN<sub><i>x</i></sub> со сжимающими напряжениями от –10 до –50 МПа получены при [SiH<sub>4</sub>]/[N<sub>2</sub>] от 0.55 до 1.0 и мощности ICP-источника в 600 Вт. Подъем мощности источника при прочих неизменных условиях осаждения приводит к возрастанию напряжений от –125 МПа при 300 Вт до –625 МПа при 800 Вт. Варьирование температуры осаждения от 25 до 350°С существенно не влияет на уровень напряжений и показатель преломления, а также на скорость роста SiN<sub><i>x</i></sub>. Оценен дрейф остаточных напряжений в течение трех недель после осаждения, а также содержание кислорода в пленках SiN<sub><i>x</i></sub> в зависимости от режима осаждения.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherРоссийская академия наук, Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАНru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleМеханические напряжения в пленках SiNx при химическом осаждении из газовой фазы в плазме высокой плотностиru
dc.typearticleru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
dc.identifier.DOI10.31857/S0002337X2209007X.-
dc.identifier.orcid0000-0001-8273-6908ru
Располагается в коллекциях:Кафедра квантовой радиофизики и оптоэлектроники. Статьи

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Ковальчук.pdf718,54 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.