Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/329588Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Олешкевич, А. Н. | |
| dc.contributor.author | Оджаев, В. Б. | |
| dc.contributor.author | Лапчук, Т. М. | |
| dc.contributor.author | Телеш, Е. В. | |
| dc.contributor.author | Лапчук, Н. М. | |
| dc.contributor.author | Никонович, Н. А. | |
| dc.contributor.author | Клепицкая, Е. И. | |
| dc.date.accessioned | 2025-05-22T14:49:15Z | - |
| dc.date.available | 2025-05-22T14:49:15Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники : материалы XI Междунар. науч. конф., Минск, 16–18 окт. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 311-314. | |
| dc.identifier.isbn | 978-985-881-739-8 | |
| dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/329588 | - |
| dc.description | Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках | |
| dc.description.abstract | Исследовались пленки полиэтилентерефталата разной толщины, имплантированные ионами сурьмы с энергией 60 кэВ и низкими дозами 30 мкКл, 60 мкКл, 100 мкКл и 200 мкКл. Целью работы является изучение влияния ионов сурьмы, имплантированных в пленки полиэтилентерефталата с толщиной 72 мкм и 50 мкм, на их парамагнитные свойства. Проведенные исследования показывают, что с увеличением дозы имплантируемой примеси сурьмы в пленки ПЭТФ есть вероятность образования в имплантируемом слое полимера кластеров сурьмы. Основная особенность проведенных методом ЭПР исследований заключается в экспресс диагностике и простоте оценки кинетики накопления дефектов в полимерной матрице без разрушения модифицированного слоя и самого исследуемого образца | |
| dc.language.iso | ru | |
| dc.publisher | Минск : БГУ | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
| dc.title | Влияние дозы имплантации ионов сурьмы (Е = 60 кэВ) на парамагнетизм пленок ПЭТФ | |
| dc.title.alternative | Influence of antimony ion implantation dose (E = 60 keV) on paramagnetism of PET films / A. N. Oleshkevich, V. B. Odzhaev, T. M. Lapchuk, E. V. Telesh, N. M. Lapchuk, N. A. Nikonovich, E. I. Klepitskaya | |
| dc.type | conference paper | |
| dc.description.alternative | Polyethylene terephthalate films of different thickness implanted with antimony ions with an energy of 60 keV and low doses of 30 μC, 60 μC, 100 μC and 200 μC were studied. The aim of the work is to study the effect of antimony ions implanted in polyethylene terephthalate films with a thickness of 72 μm and 50 μm on their paramagnetic properties. The studies show that with an increase in the dose of the implanted antimony impurity in PET films, there is a probability of formation of antimony clusters in the implanted polymer layer. The main feature of the studies carried out by the EPR method is the express diagnostics and ease of evaluation of the kinetics of defect accumulation in the polymer matrix without destroying the modified layer and the sample itself | |
| Располагается в коллекциях: | 2024. Материалы и структуры современной электроники | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 311-314.pdf | 342,37 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.