Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/329532
Заглавие документа: Уменьшение систематической погрешности измерений параметров светодиодных ламп, связанной с нестабильностью подводимой электрической мощности
Другое заглавие: Reduction of systematic error of measurements of parameters of led lamps related to instability of the input electrical power / A. L. Gurskii, M. V. Masheda
Авторы: Гурский, А. Л.
Машедо, Н. В.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2025
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Материалы и структуры современной электроники : материалы XI Междунар. науч. конф., Минск, 16–18 окт. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 66-70.
Аннотация: Предложена методика уменьшения влияния систематической погрешности измерений величины полного светового потока светодиодных ламп в процессе их старения из-за нестабильности подводимой электрической мощности в процессе измерений. Показано, что применение этой методики позволяет уменьшить разброс экспериментальных данных. Это, в свою очередь, влияет на результаты прогнозирования ресурса ламп, позволяя повысить точность прогнозирования, а также способствует более точному описанию динамики процессов деградации активных сред светодиодных ламп
Аннотация (на другом языке): A method of reduction of influence of systematic error of measurements of the value of total luminous flux of LED lamps during ageing caused by an instability of input electrical power in the measurement procedure has been proposed. It was demonstrated that application of this method allows to reduce the experimental data scattering. This, in it’s turn, affects the results of lumen maintenance prediction, allowing to increase the forecasting accuracy, and also contributes to a more accurate description of the dynamics of degradation processes of active areas of LED lamps
Доп. сведения: Свойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/329532
ISBN: 978-985-881-739-8
Лицензия: info:eu-repo/semantics/openAccess
Располагается в коллекциях:2024. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
66-70.pdf387,03 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.