Тестирование заказных интегральных микросхем 8-канального усилителя повышенной надежности с низким входным сопротивлением Ampl-8.53: реферат дипломной работы/Лешко А.Ю., БГУ, физический факультет, кафедра ядерной физики, руководитель Батурицкий М.А.

Abstract

Дипломная работа 38 страниц, 4 части, 19 рисунков, 10 источников. КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА: SPD, МДТ, УСИЛИТЕЛЬ, ИМС, ТОКИ УТЕЧКИ. Объектом исследования является образцы заказных ИМС ampl-8.53. Цель работы сделать измерительный стенд под контактирующее устройство, провести отбраковку ИМС ampl-8.53. Методы исследования: экспериментальный, измерение сопротивления на входе усилителя, измерение токов утечки. Электроника, требуемая для эксперимента SPD, должна удовлетворять жестким требованиям для получения точных данных, которые будут использованы для исследования структуры спина протонов и дейтронов с использованием поляризованных пучков протонов и дейтронов. С этой целью в институте физики была разработана схема ИМС, которая должна пройти проверку, прежде чем попасть в эксперимент. В эту проверку входят такие параметры как токи утечки и сопротивление на входе усилителя. После прохождения данной проверки происходит отбраковка по форме сигнала. Если электроника удовлетворяет ТЗ, она может быть отправлена на проверку на установку, которая будет имитировать условия, при которых работает реальная МДТ в эксперименте SPD. Данные полученные на детекторе SPD послужат для изучения сильного взаимодействия при столкновениях поляризованных протонных и ионных пучков. Основные цели включают: изучение спиновой структуры протона и дейтрона, поиск новых состояний барионной материи Анализ спиновых асимметрий и их корреляций, развитие квантовой хромодинамики (Получение данных, которые помогут понять динамику кварков и глюонов внутри адронов).