Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/31850| Заглавие документа: | Кинетический анализ состава собственных дефектов в ZnO и GaN |
| Авторы: | Рогозин, И. В. Мараховский, А. В. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника |
| Дата публикации: | 2004 |
| Издатель: | АКАДЕМИЯ УПРАВЛЕНИЯ ПРИ ПРЕЗИДЕНТЕ РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/31850 |
| Располагается в коллекциях: | 2004. Квантовая электроника |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.