Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/31850
Title: Кинетический анализ состава собственных дефектов в ZnO и GaN
Authors: Рогозин, И. В.
Мараховский, А. В.
Keywords: ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника
Issue Date: 2004
Publisher: АКАДЕМИЯ УПРАВЛЕНИЯ ПРИ ПРЕЗИДЕНТЕ РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/31850
Appears in Collections:2004. Квантовая электроника

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
95.pdf72,34 kBAdobe PDFView/Open


PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.