Рамановская спектроскопия тонких пленок со структурой кестерита:реферат дипломной работы/ Мандрик А. К., БГУ, физический факультет, кафедра лазерной физики и спектроскопии, научные руководители Живулько В. Д., Слободянюк А. И.

Abstract

Цель работы – исследовать структурные характеристики тонких пленок со структурой кестерита, созданных на стеклянных подложках, на стеклянных подложках со слоем молибдена и в составе структуры солнечного элемента. Методика эксперимента – измерение и математическая обработка данных комбинационного рассеивания тонких пленок со структурой кестерита, созданных на стеклянных подложках, на стеклянных подложках со слоем молибдена и в составе структуры солнечного элемента с помощью сканирующего лазерного рамановского микроскоп-спектрометр Confotec MR350 3D, определение фазового состава исследуемых тонких плёнок.