Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/305410Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Зайков, В. А. | |
| dc.contributor.author | Михалёнок, А. А. | |
| dc.contributor.author | Константинов, С. В. | |
| dc.contributor.author | Комаров, Ф. Ф. | |
| dc.contributor.author | Чижов, И. В. | |
| dc.contributor.author | Лученок, А. Р. | |
| dc.date.accessioned | 2023-12-01T07:25:14Z | - |
| dc.date.available | 2023-12-01T07:25:14Z | - |
| dc.date.issued | 2023 | |
| dc.identifier.citation | Квантовая электроника : материалы XIV Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 21-23 нояб. 2023 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: М. М. Кугейко (гл. ред.), А. А. Афоненко, А. В. Баркова. – Минск : БГУ, 2023. – С. 147-150. | |
| dc.identifier.isbn | 978-985-881-530-1 | |
| dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/305410 | - |
| dc.description.abstract | Методом сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) изучены свойства и состав нитридных покрытий TiAlN с добавками кремния (Si). Четырёхзондовым методом проведены измерения поверхностного R и удельного ρ сопротивления. Cпектральный коэффициент отражения R определялся спектрофотометрированием в широком диапазоне длин волн λ = 200 ÷ 2500 нм. Зависимость спектрального коэффициента отражения демонстрирует металлический тип проводимости, который хорошо описывается теорией Друде - Лоренца | |
| dc.language.iso | ru | |
| dc.publisher | Минск : БГУ | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
| dc.title | Влияние добавок кремния на электрофизические и оптические свойства тонкопленочных покрытий TiAlN | |
| dc.title.alternative | The influence of silicon additives on the electrical and optical properties of thin film TiAlN coatings / V. A. Zaikov, A. A. Mikhalenok, S. V. Konstantinov, F. F. Komarov, I. V. Chizhov, A. R. Luchenok | |
| dc.type | conference paper | |
| dc.description.alternative | The properties and composition of TiAlN nitride coatings with silicon (Si) additives have been studied by scanning electron microscopy (SEM). Measurements of surface R and specific ρ resistivity were carried out by the four-probe method. The spectral reflection coefficient R in a wide wavelength range λ = 200 ÷ 2500 nm was determined by spectrophotometric methods. The dependence of the spectral reflection coefficient demonstrates the metallic type of conductivity, which is well described by the Drude - Lorentz theory | |
| Располагается в коллекциях: | 2023. Квантовая электроника | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 147-150.pdf | 1,61 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.