Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/304309Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Злоцкий, С. В. | |
| dc.contributor.author | Приходько, И. Д. | |
| dc.contributor.author | Микитюк, И. С. | |
| dc.date.accessioned | 2023-11-03T13:27:52Z | - |
| dc.date.available | 2023-11-03T13:27:52Z | - |
| dc.date.issued | 2023 | |
| dc.identifier.citation | Взаимодействие излучений с твердым телом : материалы 15-й Междунар. конф., Минск, Беларусь, 26-29 сент. 2023 г. / Белорус, гос. ун-т ; редкол.: В. В. Углов (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2023. – С. 161-163. | |
| dc.identifier.issn | 2663-9939 (Print) | |
| dc.identifier.issn | 2706-9060 (Online) | |
| dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/304309 | - |
| dc.description | Секция 2. Радиационные эффекты в твердом теле = Section 2. Radiation effects in solids | |
| dc.description.abstract | Исследована микроструктура поверхности многослойных пленок ZrN/Si3N4, облученных ионами гелия. Выявлено формирование блистеров и установлена зависимость степени радиационной эрозии многослойных пленок от соотношения толщин кристаллического и аморфного слоев (fZrN). Выявлены критические флюенсы блистерообразования в многослойных пленках (возрастает при уменьшении fZrN) и установлено минимальное значение при fZrN ~ 0.29 | |
| dc.language.iso | ru | |
| dc.publisher | Минск : БГУ | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
| dc.title | Микроструктура поверхности наноструктурированных покрытий ZrN/Si3N4, облученных ионами гелия | |
| dc.title.alternative | Surface microstructure of nanostructured ZrN/Si3N4 coatings irradiated with helium ions / S.V. Zlotski, I.D. Prikhodko, I.S. Mikityuk | |
| dc.type | conference paper | |
| dc.description.alternative | The microstructure of the surface of ZrN/Si3N4 multilayer films irradiated with helium ions has been studied. The formation of blisters was revealed and the dependence of the degree of radiation erosion of multilayer films on the ratio of the thicknesses of the crystalline and amorphous layers (fZrN) was established. The critical fluences of blister formation in multilayer films are revealed; it increases with decreasing f ZrN and the minimum value is established at f ZrN ~ 0.29 | |
| Располагается в коллекциях: | 2023. Взаимодействие излучений с твердым телом | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 161-163.pdf | 309,99 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.