Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/304265
Заглавие документа: Синтез аморфных и поликристаллических пленок оксидов олова для применений в качестве термоэлектрических материалов
Другое заглавие: Synthesis of amorphous and polycrystalline tin oxide films for applications as thermoelectric materials / Vitaly Ksenevich, Maria Samarina, Vladimir Dorosinets, Lizaveta Shchur, Dzmitry Adamchuk, Gulmurza Abdurakhmanov
Авторы: Ксеневич, В. К.
Самарина, М. А.
Доросинец, В. А.
Щур, Е. Г.
Адамчук, Д. В.
Абдурахманов, Г.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2023
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Взаимодействие излучений с твердым телом : материалы 15-й Междунар. конф., Минск, Беларусь, 26-29 сент. 2023 г. / Белорус, гос. ун-т ; редкол.: В. В. Углов (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2023. – С. 521-523.
Аннотация: Методом магнетронного распыления мишени олова с последующим двухстадийным отжигом на воздухе синтезированы пленки оксидов олова. C использованием методов рентгеновской дифракции и комбинационного рассеяния света установлено, что пленки, полученные при температуре 350 °С на 2-ой стадии отжига, имеют рентгеноаморфную структуру. Пленки, подвергнутые отжигу на 2-ой стадии при температурах 400 и 450 °С имеют поликристаллическую структуру, в состав которой входят фазы SnO, SnO2, а также нестехиметрические фазы Sn2O3 и Sn3O4. Наибольшей величиной электропроводности (σ~3.9 . 10 -5 См) характеризуются аморфные пленки оксидов олова. Величина коэффициента Зеебека составляет 9.4 . 10 -5 , 1.6 . 10 -4 и 1.6 . 10 -4 В/К для образцов, полученных при 350, 400 и 450 °С на 2-ой стадии отжига соответственно
Аннотация (на другом языке): Electrical conductivity σ and Seebeck coefficient S of tin oxide films with various crystalline structure were measured. Tin oxide films were synthesized by means of magnetron sputtering of a tin target followed by 2-stage annealing in air (at the temperature of about 200 °C during 2 hours at the 1st stage and at temperatures 350, 400 and 450 °C during 1 hour at the 2nd stage). Structural properties of the samples were investigated using X-ray diffraction analysis and Raman spectroscopy. It was found that films obtained at temperature 350 °C have an amorphous structure. Tin oxide films annealed at temperature 400 and 450 °C have a polycrystalline structure with both stoichiometric SnO, SnO2 phases, and nonstoichiometric Sn2O3, Sn3O4 phases in their composition. It was found that amorphous tin oxide films are characterized by the maximal electrical conductivity value (σ~3.9 . 10 -5 S). It was found that the value of Seebeck coefficient S is of the same order of magnitude for tin oxide films obtained at different temperatures on the 2nd stage of annealing procedures (9.4 . 10 -5 , 1.6 . 10 -4 и 1.6 . 10 -4 V/K for the samples heat treated at 350, 400 и 450 °С respectively)
Доп. сведения: Секция 5. Методы, оборудование, плазменные и радиационные технологии = Section 5. Methods, equipment, plasma and radiation technologies
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/304265
ISSN: 2663-9939 (Print)
2706-9060 (Online)
Финансовая поддержка: Работа выполнена в рамках проекта БРФФИ №Ф22УЗБ-056 и задания ГПНИ2.14 (НИР 3) «Материаловедение, новые материалы и технологии».
Лицензия: info:eu-repo/semantics/openAccess
Располагается в коллекциях:2023. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
521-523.pdf386,69 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.