Улучшение метрологических характеристик безэховых камер за счет апостериорного анализа на основе искусственных нейронных сетей

Abstract

Рассмотрена возможность улучшения метрологических характеристик безэховой камеры за счет апостериорной обработки результатов измерений на основе генеративно-состязательной модели искусственной нейронной сети в целях снижения влияния на распределение электромагнитного поля в измерительной зоне волн, отраженных от внешних границ камеры и расположенного в ней оборудования. Обучение нейронной сети осуществлено на наборе данных, которые были получены в рамках вычислительного эксперимента и включали в себя распределения электромагнитного поля в области безэховости для модели безэховой камеры и свободного пространства при заданных схемах размещения источников. Распределения действительной и мнимой частей электрической компоненты электромагнитного поля закодированы в виде цветных изображений. На примере двумерных моделей безэховых камер показана практическая реализуемость предложенного подхода к апостериорной обработке результатов измерений. Приведены методики оценки точности апостериорной обработки результатов измерений на основе метрик, используемых для оценки качества графических изображений, и вычисления погрешностей амплитуд электрической компоненты электромагнитного поля. Оценена возможность реализации предложенной методики апостериорного анализа в рамках натурных микроволновых измерений в безэховых камерах.