Logo BSU

Статистика

Всего просмотров

Просмотров
Study of radiation-induced defects in p-type si1−x gex diodes before and after annealing 156

Всего просмотров за месяц

августа 2025 сентября 2025 октября 2025 ноября 2025 декабря 2025 января 2026 февраля 2026
Study of radiation-induced defects in p-type si1−x gex diodes before and after annealing 8 37 20 13 6 9 0

Загрузок файла

Просмотров
materials_13_05684_pdf.pdf 33

ТОП-просмотров по странам

Просмотров
Соединенные Штаты 70
Япония 20
Канада 15
Россия 14
Китай 9
Индия 4
Украина 4
Венесуэла 4
Германия 3
Аргентина 2

ТОП-просмотров по городам

Просмотров
Houston 33
Tokyo 20
Ottawa 15
San Jose 9
Moscow 5
Caracas 4
Beijing 2
Cambridge 2
Dearborn 2
Durham 2