Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/288132
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorDvornikov, O.V.-
dc.contributor.authorTchekhovski, V.A.-
dc.contributor.authorProkopenko, N.N.-
dc.contributor.authorPakhomov, I.V.-
dc.date.accessioned2022-10-31T12:16:52Z-
dc.date.available2022-10-31T12:16:52Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.citationIOP Conference Series: Materials Science and Engineering; 2020.ru
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/288132-
dc.description.abstractThe technique of circuit noise reduction of charge-sensitive amplifiers containing bipolar and junction field-effect transistors is considered. The initial and improved circuit of the integrated charge-sensitive amplifiers using the above mentioned technique, the results of the step-by-step noise reduction when changing the sizes and operating modes of transistors, and improvement of the bias circuits are presenteru
dc.description.sponsorshipThe study has been carried out at the expense of the grant from the Russian Science Foundation (Project No. 16-19-00122-P)ru
dc.language.isoenru
dc.publisherInstitute of Physics Publishingru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleReducing noises of high-speed Bi-JFET charge-sensitive amplifiers during schematic designru
dc.typeconference paperru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
dc.identifier.DOI10.1088/1757-899X/862/2/022068-
dc.identifier.scopus85086328136-
Располагается в коллекциях:Статьи НИУ «Институт ядерных проблем»

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Dvornikov_2020_IOP_Conf._Ser.__Mater._Sci._Eng._862_022068.pdf639,64 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.