Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/280333
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorПросолович, Владислав Савельевич-
dc.contributor.authorОджаев, Владимир Борисович-
dc.date.accessioned2022-05-31T11:37:09Z-
dc.date.available2022-05-31T11:37:09Z-
dc.date.issued2022-05-30-
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/280333-
dc.description.abstractВ данном курсе рассматриваются основные факторы, влияющие на технологические процессы изготовления устройств микро- и наноэлектроники. Приводятся возможности и ограничения важнейших методов исследования материалов на различных стадиях технологических процессов. Дисциплина изучается в 7 семестре. Форма текущей аттестации – экзамен.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроникиru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/restrictedAccessru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleТехнологические процессы в современной микро- и наноэлектронике и методы исследования электронных структур: учебная программа УВО по учебной дисциплине для специальности 1-31 04 08 Компьютерная физика. № УД-10669/уч.ru
dc.typesyllabusru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
Располагается в коллекциях:Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Тех.проц.в современной микро- и наноэлектронике и методы иссл-ия электрон.ст-р.pdf768,45 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.