Радиационные повреждения и механические напряжения в диэлектриках, облученных тяжелыми ионами с энергиями осколков деления : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель В. В. Углов

Abstract

Объектами исследования служили образцы диэлектриков на основе оксидов Al2O3 и ZrO2:Y, облученных высокоэнергетическими ионами ксенона. Целью настоящего проекта является исследование изменения фазового состава, микроструктуры и внутренних напряжений в диэлектриках на основе оксидов Al2O3 и ZrO2:Y, облученных тяжелыми ионами с энергиями осколков деления. В результате проведенных исследований обнаружено, что облучение ионами Xe приводит к формированию трех деформированных областей. Выявлен рост деформации в образце Al2O3 с увеличением дозы облучения ионами Xe. Это позволило оценить диаметр ионных треков, который составил (3,7± 0,3) нм. Выявлен рост ширины дифракционных пиков, соответствующих дифракции от деформированных областей Al2O3. Поперечное сечение образцов Al2O3, облученных до дозы 2×1012 и 2×1013 см-2, выявило прерывистые ионные треки, видимые с облучаемой поверхности на глубине до (7,6±0,1) мкм. Было обнаружено, что дифракционный контраст на снимках ПЭМ обусловлен наличием пустот в области ионных треков. Обнаружено, что облучение ионами Xe приводит к формированию деформированной области. Выявлен рост деформации, а также ширины дифракционных пиков в образце ZrO2:Y с увеличением дозы облучения ионами Xe.