Диагностика функциональных материалов методом динамических решеток

Abstract

Проанализированы возможности метода динамических решеток для диагностики и измерения характеристик ряда функциональных материалов. Показана эффективность выделения различных механизмов нелинейности за счет изменения длины волны падающего излучения и периода динамических решеток. Продемонстрировано расширение возможностей метода при использовании дополнительной решетки (гомодина), позволяющей разделять вклады различных механизмов нелинейности в условиях их одновременного проявления. Для измерения нелинейной оптической восприимчивости пятого и более высокого порядков предложено использовать различные порядки дифракции на объемных динамических решетках. Разработанные методики апробированы на ряде полупроводниковых сред, фоторефрактивных и активированных кристаллах, диагностика которых позволила определить нелинейно-оптические, термооптические и кинетические характеристики, включая времена заселения возбужденных и ловушечных уровней, время жизни носителей заряда, термооптический коэффициент и температуропроводность.