Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/271107| Title: | Изучение возможности отжига деформированного сплава Ni-13.9 мас. % W пучками ускоренных ионов аргона |
| Other Titles: | Study of possibility of deformed Ni - 13.9 wt. % W alloy annealing using beams of accelerated argon ions / Natalia Gushchina, Vladimir Voronin, Natalia Proskurnina, Vladimir Bobrovskii, Konstantin Shalomov, Vladimir Ovchinnikov |
| Authors: | Гущина, Н. В. Воронин, В. И. Проскурнина, Н. В. Бобровский, В. И. Шаломов, К. В. Овчинников, В. В. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 2021 |
| Publisher: | Минск : БГУ |
| Citation: | Взаимодействие излучений с твердым телом : материалы 14-й Междунар. конф., посвящ. 100-летию Белорус. гос. ун-та, Минск, Беларусь, 21-24 сент. 2021 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Углов (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2021. – С. 277-280. |
| Abstract: | Проведено исследование возможности отжига деформированных лент сплава Ni – 13.9 мас. % W с использованием пучков ускоренных ионов Ar+ c энергией 15 кэВ. Установлено, что кратковременное облучение флюенсом ~ 3.1·10 16 см-2 (в течение 50 с) при температурах мишени Т < 370°С и Т = 630°C приводит к снятию микронапряжений в объеме ленты толщиной 80 мкм, при этом сохраняется исходная текстура. Аналогичные изменения уровня микронапряжений как с облученной, так и с необлученной сторон образцов, при проективном пробеге ионов Ar + с энергией 15 кэВ в никеле ~ 7 нм, свидетельствует в пользу радиационно-динамической природы воздействия пучков ускоренных ионов на вещество |
| Abstract (in another language): | The possibility of annealing the strips of deformed to 99% Ni – 13.9 wt. % W alloy was investigated using beams of accelerated Ar+ ions with an energy of 15 keV. The alloy after deformation and subsequent recrystallization annealing (T = 1000°C, 1 h) acquires an especially sharp texture and is a promising material for the manufacture of substrates for HTSC cables. Irradiation with continuous beams of Ar+ ions was carried out on an ILM-1 implanter equipped with a PULSAR-1M ion source based on a low-pressure glow discharge with a cold hollow cathode. The irradiation parameters were selected in such a way as to irradiate the samples Ni − 13.9 wt. % W at two different temperatures. In the first case, the samples were not heated above 370°C due to movement under the ion beam at a speed of 1 cm/s. In the second case, the temperature of the samples during irradiation was 630°C. An X-ray structural study of the strips in the initial state and after ion-beam treatment was carried out using the Rietveld method using the FullProf program. X-ray diffraction patterns were recorded on a DRON-4 diffractometer. It was found that short-term irradiation with low fluence ~ 3.1·10 16 cm-2 (50 s of irradiation) at target temperatures T < 370°C and T = 630°C leads to the removal of existing microstresses in the volume of the tape 80 μm thick, while the original texture is retained. Similar changes in the level of microstresses from both the irradiated and unirradiated sides of the samples, when the projected range of Ar+ ions with an energy of 15 keV in nickel is ~ 7 nm only, testifies in favor of the radiation-dynamic nature of the action of beams of accelerated ions on matter. Such action is associated with the generation and propagation of post-cascade powerful elastic and shock waves |
| Description: | Секция 3. Модификация свойств материалов = Section 3. Modification of material properties |
| URI: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/271107 |
| ISSN: | 2663-9939 (Print) 2706-9060 (Online) |
| Sponsorship: | Исследование выполнено при финансовой поддержке Российского научного фонда (проект № 19-79-20173) |
| Appears in Collections: | 2021. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 277-280.pdf | 466,32 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.